2009年11月25日，牛津仪器纳米分析部代表牛津仪器公司参加了在北京举办的为期4天的第十三届BCEIA北京分析测试学术报告会及展览会。
北京分析测试学术报告会及展览会，是由中国分析测试协会主办，中华人民共和国科学技术部批准的专业性的分析测试仪器展览会，在国内外享有较高的声誉。本次展会共有300多家厂商参展，展出了当今世界著名分析仪器厂商近年来研制、生产的新型分析仪器设备。牛津仪器纳米分析部协同磁共振部门参加了展览会，并且同时在Tescan LYRA I FE SEM上展示了纳米分析部最先进的大面积能谱系统X-Max 80和高速EBSD系统NordlysF+。展会期间纳米分析部的工程师们向用户现场演示了这两项产品优异的分析性能，并为客户的样品进行了现场测试，博得了客户的一致好评。
参加本次展览会的有牛津仪器纳米分析部亚洲区域经理Bryon先生，牛津仪器中国区首席代表张鹏博士及纳米分析部的销售及服务团队，充分展示了牛津仪器为客户服务的团队凝聚力和高品质的形象。焦汇胜博士代表纳米分析部参加了BCEIA的学术报告会并提交了两份展报，向与会的专家学者展示了牛津仪器最新的产品和高品质的应用结果，引起了与会代表的极大兴趣。
展会在热烈的气氛中结束，我们期待着结识更多的新老客户，为各行各业的科学工作者的研究工作提供更多的技术和服务。
