技术参数：
    1.快速形态分析：40秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.1mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02mm），自动获得每粒种子的外观形状参数，以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率（35g样本的测量误差≤±1.0%，重现性误差≤±0.25%）、垩白度、垩白粒率（35g样本的测量误差≤±1.0，重现性误差≤±0.5）、大米透明度（35g样本的测量误差≤±5.0%，重现性误差≤±0.5%）、碎米率、不完善粒（黄粒米、未成熟粒、杂质）。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标，可选择区域统计。还可分析大米的碾米精度，以及裂纹率。稻种等的考种计数正确率，经极快速地可视化验证后，可达100%正确。
    2.具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习，并实现自动分类的特性。可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数与各项分析，并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算得千粒重 等；可裁剪或擦除掉污染目标区，删除任意区域内的误选种子。可合并误分割，以及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。
    3．具有样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口，电脑插上条码枪即可刷入样本编号；在电子天平加上被测样本，一旦稳定即出重量数据和千粒重数据，不需按天平的打印键。能折算掉混入的秕谷重量，自动算出实粒千粒重。能自动测出参数比较特别玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角，平均行粒数、粒厚、粒数、粒形，截面穗行数、穗粗、轴粗，以及截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。还可分析叶片经脉密度。
    4．测量功能：
     尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
    长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
    可以单独进行目标的长度测量。
    5．数据存储：图像可保存（可保留原图/结果图）；自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表；
    6．仪器规格与配置：
     大米分析专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪（电脑另配）；
    或对各类种子分析选配光学分辨率4800×9600、Epson V33 Photo真彩扫描仪、带RS232接口的电子天平（电脑另配）。或选配超大幅面的A3扫描仪来成像。